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Ｃ＜，６０＞晶体在２６０Ｋ附近发生了一个有序－无序相变，这在很实验中得到验证，但是其中有很多物理性质，仍然不能解释清楚。很多文章都报道了在相变附近，Ｃ＜，６０＞晶体的杨氏模量发生很大的变化，并且很多内耗实验都测出了一个损耗峰，但是，模量的改变量及峰的高低等都没有一个一致的结果。作者使用内耗方法对该相变也进行了细致的研究，并考察了多晶薄膜的颗粒尺寸对内耗峰及模量软化的影响。