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本文介绍一种使用同轴线制备简易高频测试平台、运用射频设备测量纳米尺度样品高频性能的方法。使用该方法，窄脉冲射频信号在传输线中的延时测量精度达到10皮秒左右，发现了铜芯同轴传输线与多壁碳管同轴传输线的传输特性的区别。这一方法有可能推广到测试其他小尺度样品高频特性的研究中。
一种测量纳米材料高频特性的新方法
【摘 要】
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本文介绍一种使用同轴线制备简易高频测试平台、运用射频设备测量纳米尺度样品高频性能的方法。使用该方法，窄脉冲射频信号在传输线中的延时测量精度达到10皮秒左右，发现了铜芯
【机 构】
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纳米器件物理与化学教育部重点实验室,北京大学电子学系
【出 处】
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第二届安捷伦科技节暨安捷伦科技生命科学与化学分析技术高层论坛、安捷伦测量科技论坛
【发表日期】
：
2009年期
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