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光学材料和元件内都有残存内应力，光学上表现为双折射，其对光学系统的性能（如成像质量）负面影响很大。光学波片作为基本光学元件，应用于光通信，光存储，干涉仪，矿石分析等领域。光学元件内应力、双折射和波片相位延迟可统称光学元件相位延迟。多年来，常用的测量光学元件相位延迟的方法存在诸多问题：①测量重复性不高于1％，已无提高余地；②测量仪器自身系统误差未知，无法扣除：③至今没有溯源到自然基准（光波长）的测量仪器，各种测量方法不能统一。历经15年，作者课题组研究出了新原理、高精度、可溯源、自动化的光学元件相位延迟测量仪器。