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除草剂药害的早期诊断对作物的产量非常重要。本研究通过对大豆喷施不同浓度的莠去津进行处理,并分别在处理1天、3天、5天后,进行大豆叶片叶绿素荧光参数的测定。研究结果表明,随着莠去津处理浓度的上升,大豆叶片叶绿素荧光参数最大光量子产量(Fv/Fm)、非光化学淬灭(NPQ)、实际光量子产量(Y(II))和电子传递速率(ETR)受到的抑制作用均逐步加剧。在莠去津处理下大豆叶片的Fv/Fm、NPQ、Y(II)和ETR等参数的抑制率变化趋势均能表现大豆的药害程度,故对这些参数的研究有助于构建除草剂胁迫下植株药害检测系统。