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来源 :2013年全国电子显微学学术会议 | 被引量 : [!--cite_num--]次 | 上传用户:[!--user--]
【作 者】
:
陈清
宁志远
魏贤龙
高崧
【机 构】
:
北京大学电子学系纳米器件物理与化学教育部重点实验室,北京100871
【出 处】
:
2013年全国电子显微学学术会议
【发表日期】
:
2013年10期
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