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以等离子体喷涂工艺制备7.5wt% Y2O3部分稳定的ZrO2(YSZ)热障涂层经1100℃恒温热处理200h.分别采用拉曼光谱法和荧光压谱法表征陶瓷层和热生长氧化物层(TGO)中的残余应力.结果表明:制备态陶瓷层中为张应力,热处理后转变为压应力.随着热处理时间由50h增至150h,压应力逐渐增大,随后压应力略微下降;TGO层中产生的残余压应力在前50h快速增大,并致极大值,随后逐渐降低.