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在n-Si衬底上分别注B<+>1×10<13>cm<-2>50kev和注矿5×10<12>cm<-2>50kev形成p-n结后再用MBE外延800nm厚的Ge膜:在n-Si衬底上用MBE外延一层p-Si形成p-n结后再用MEB外延800nm厚的Ge膜.利用透射电镜、X光双晶衍射、红外吸收谱、Hall剥层测量等方法对Ge膜分析比较,Ge膜的单晶质量、光电特性都比较好,直接生长的Ge膜的质量要优于经离子注入的Ge膜:但p-n结特性即是经离子注入的要好于直接生长.