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基于星载扫描辐射计的工作原理，分别论述了传统的线列扫描成像系统和过采样系统的基本工作原理，对两种探测系统的采样过程分别进行数学建模及仿真成像，在两种采样模式下对点目标探测进行了仿真。对过采样探测仿真，进行对图像的沿线阵方向的两倍空间过采样，扫描方向上(即时间上)的2到10倍的过采样，观察常规采样和过采样获取的各种工况下信号特征并对其进行分析。分析了信号能量值和尺寸大小的关系以及目标位置的不同对成像质量造成的影响。另外，成像系统的仿真又可方便快捷地得到不同参数配置下的系统设计结果，为系统设计人员提供一定的参考依据。