测试总线技术的发展研究

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【摘要】

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本文介绍了测试总线技术的发展历史,比较了常用测试总线的特点、性能及适用场合.最后根据当前总线测试技术的发展趋势以及大规模集成电路的强大功能,提出了基于LXI总线技术的

【作者】

：

李国卿黄金杰

【机构】

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西安电子工程研究所,陕西,西安,710100

【出处】

：

第十五届全国测试与故障诊断技术研讨会

【发表日期】

：

2006年9期

【关键词】

：

测试总线总线测试板卡检测功能

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本文介绍了测试总线技术的发展历史,比较了常用测试总线的特点、性能及适用场合.最后根据当前总线测试技术的发展趋势以及大规模集成电路的强大功能,提出了基于LXI总线技术的总线测试板卡应具有直接与LXI进行通信,以及智能芯片能自主完成智能测试或检测功能的发展新思路,使LXI总线真正成为与VXI和PXI总线具有可比性的测试总线.

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