复合涂层长期贮存寿命与可靠性评估

来源 :第九届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:wangtan2
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
本文对多种材料的复合涂层进行了自然老化实验和高温氧化、湿热、震动、高低温循环等加速老化实验研究,在此基础上对复合涂层长期贮存寿命与可靠性进行了评估,得到了该复合涂层贮存10年后结合强度保持在3.5MPa以上的可靠性大于99.7%的评估结论。
其他文献
UFD2 (ubiquitin fusion degradation-2)结构域是UFD2蛋白序列上一段高度保守的序列,该结构域在植物的UFD2和RKP2类泛素连接酶中都存在,UFD2结构域在植物中普遍存在,但是关于
采用串列静电加速器对国微和Intel生产的80486CPU进行了单粒子效应辐照试验。试验得到国微和Intel生产的80486CPU单粒子锁定阈值约为5.96MeV/mg/cm。国微生产的486单粒子翻转
本文首先建立了重离子入射在单管器件MOSFET漏区时单粒子翻转损伤模型,计算结果与电荷漏斗模型相吻合,表明所建立的物理模型的正确性。在建立的单管器件模型基础上,采用器件/
抗辐射加固设计是可靠性设计的重要内容之一,本文首先提出了抗辐射加固总体优化设计的技术途径,然后引入"辐射可靠性"的概念,阐述了辐射可靠性与器件抗辐射性能之间的量化关
结合器件版图,通过对2k SRAM存储单元和外围电路进行单粒子效应激光微束辐照,获得了SRAM器件的单粒子翻转敏感区域,测定了不同敏感区域单粒子翻转的激光能量阈值和等效LET阈
会议
介绍了系统易损性评估方法的数学框架,它由四个具有严格顺序的信息子空间和三个信息子空间之间的映射构成,评估的过程具有不可逆性。概括介绍了系统的电磁脉冲易损性评估过程
利用故障树分析方法可以对比较复杂的系统进行近似评定,本研究对某特定系统进行了故障树分析,并将特定系统划分到组件级进行可靠性评定方法探讨。
本文首先介绍了不确定度的相关概念和评定方法。然后以EMP试验电场测量为例,详细叙述了不确定度的各个分量及其评定方法。分析结果既可以作为EMP试验电场测量结果不确定度评
研究了炸药的中子、γ射线试验裕度法原理,统计分析方法,抗中子、γ射线辐射能力分析评估方法,并根据某型炸药的中子、γ射线辐照试验结果数据,分析评估了其抗中子、γ射线辐
采用Monte Carlo程序模拟γ在大气中向地面方向的输运过程,得到各测点光子注量和由于能量沉积使大气电高产生的电子数密度及变化规律,并将数值模拟结果与理论近似解析结果进